О статье
Д.В. Комнатный
Рассматриваются модели паразитных антенн в узлах микроэлектронной аппаратуры ключевых систем информационной инфраструктуры. Для расчета восприимчивости к электромагнитным помехам применяется метод передаточных функций. Описаны резонансные и аналогичные резонансным режимы в электрически малых антеннах, модели которых представляют собой цепи со сосредоточенными параметрами. Для моделей паразитных антенн в виде цепей с распределенными параметрами получено выражение для передаточной функции и выявлены режимы в нагрузке, аналогичные резонансным. Рассмотрен способ исследования перечисленных режимов при испытаниях аппаратуры на устойчивость к электромагнитным помехам. Анализ резонансных режимов работы паразитных антенн дает возможность исключить ухудшение электромагнитной совместимости микроэлектронной аппаратуры.
электромагнитная совместимость, импульсные помехи, паразитные антенны, резонанс, полоса пропускания, электрически малые антенны, цепи с распределенными параметрами, испытательные импульсы.
The model of parasitic antennas in units of key systems of information infrastructure microelectronic apparatus is considered. The transfer functions method is used for electromagnetic noise susceptibility calculation. The resonance regimes and analogous to resonance regimes in electrically small antennas, which models are presented lumped-parameter circuits, are described. The transfer function expression for parasitic antennas with models in the form of distributed parameter circuits is obtained and regimes, analogous to resonance in loads are exposed. The method of enumerated regimes investigation during apparatus testing for stability to electromagnetic noise is discussed. The analysis of resonance regimes in parasitic antennas give the possibility o exclude the worsening of microelectronic apparatus electro-magnetic compatibility.
electromagnetic compatibility, impulse noise, parasitic antennas, resonance regime, bandwidth, electrically small antennas, distributed parameters circuit, test impulses.